著者:Christian Ciceri, Dave Farley, Neal Ford, Andrew Harmel-Law, Michael Keeling, Carola Lilienthal
出版社: オライリー・ジャパン
ISBN: 9784814400607
発売日: 2024年01月24日頃
ソフトウェア品質をプロセスの早い段階から計測し、アーキテクチャの負債や技術的負債の蓄積を検知できるようにしておくことは、ソフトウェアの成功にとって重要です。ソフトウェアアーキテクチャに関するメトリクスを適切に導入できれば、パフォーマンスなどのリスクを軽減し、問題に対処するコストを抑えられます。本書……
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