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TOP TIPS FOR THE TOEIC L&R TEST　/　考えて解くTOEIC L&R TEST 実践演習
著者：Shari J. Berman, 小林　裕子, 早坂　信
出版社： 成美堂
ISBN： 9784791972142
発売日： 2020年02月20日頃
【※大学などの授業用テキストにつき、解答・訳・参考書等はいっさい販売しておりません。】 段階的にスコアアップを目指す新しいタイプのTOEIC®総合教材。第1部では各章Part 集中型で傾向と対策を学ぶ。第2部では対策を活かしながら各章トピック別の模擬問題へ繋がる構成。充実の構成で確実にスコアアップが期待できる。 ……続きを見る
価格：2,310円
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