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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
著者：Hao Yu, Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan
出版社： Springer New York
発売日： 2016年05月21日
Since process variation and chip performance uncertainties have become more pronounced as technologies scale down into the nanometer regime, accurate and efficient modeling or characterization of va……続きを見る
価格：12,154円

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