商品件数:1 1件~1件 (1ページ中 1ページめ)
X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing
著者:D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
出版社: CRC Press
発売日: 2019年02月11日
The scales involved in modern semiconductor manufacturing and microelectronics continue to plunge downward. Effective and accurate characterization of materials with thicknesses below a few nanomete……続きを見る
価格:44,590円

No results found

ID: -
| | 品名が | |
[画像 ] [自動改行対策
楽天アフィリエイト リンク作成 (複数商品も一発で!!)