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Nanoscale Memory Repair
著者：Masashi Horiguchi, Kiyoo Itoh
出版社： Springer New York
発売日： 2016年05月23日
Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematical……続きを見る
価格：13,369円

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