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Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics
著者:Toh-Ming Lu, Juan Pablo Borja, Joel Plawsky
出版社: Springer International Publishing
発売日: 2016年09月16日
This book focuses on the experimental and theoretical aspects of the time-dependent breakdown of advanced dielectric films used in gigascale electronics. Coverage includes the most important failure……続きを見る
価格:6,076円

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