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二次イオン質量分析法　第2版
著者：公益社団法人日本表面真空学会
出版社： 丸善出版
発売日： 2025年06月02日
二次イオン質量分析法（SIMS）は、試料表面にイオンビームを照射し、飛び出した二次イオンの質量を検出して物質を同定し、さらに各物質の試料中での分布をイメージングする手法である。金属や半導体から高分子材料……続きを見る
価格：4,400円
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