商品件数:1 1件~1件 (1ページ中 1ページめ)
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
著者:Elie Maricau, Georges Gielen
出版社: Springer New York
発売日: 2016年05月23日
This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor……続きを見る
価格:12,154円

No results found

ID: -
| | 品名が | |
[画像 ] [自動改行対策
楽天アフィリエイト リンク作成 (複数商品も一発で!!)