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Introduction to Statistics in Metrology
著者：Stephen Crowder, Collin Delker, Eric Forrest, Nevin Martin
出版社： Springer International Publishing
発売日： 2021年01月01日
This book provides an overview of the application of statistical methods to problems in metrology, with emphasis on modelling measurement processes and quantifying their associated uncertainties. It……続きを見る
価格：14,585円

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