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Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Xi
著者：Franco Pavese, Alistair B Forbes, Nien Fan Zhang, Anna G Chunovkina, Sascha Eichstadt
出版社： World Scientific Publishing Company
発売日： 2018年10月15日
This volume contains original, refereed contributions by researchers from institutions and laboratories across the world that are involved in metrology and testing. They were adapted from presentati……続きを見る
価格：19,191円

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