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Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
著者：Michael J. LuValle, Bruce G. LeFevre, SirRaman Kannan
出版社： CRC Press
発売日： 2004年04月27日
Early approaches to accelerated testing were based on the assumption that there was a simple acceleration factor that would correspond to a linear scaling of time from the operating stress to the ac……続きを見る
価格：11,768円

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